薄层电阻是半导体膜或薄金属膜单位面积上的电阻。

薄层电阻检测标准

1、GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测定 非接触涡流法

2、GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

3、GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定

4、GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法

5、SJ 20515-1995 金电镀层薄层电阻测试方法

6、GB/T 37152-2018 纳米技术 碳纳米管材料 薄层电阻

薄层电阻检测项目

薄层电阻率测试，四探针薄层电阻测试，表面薄层电阻与表面电阻率测试等。

薄层电阻检测范围

半导体，扩散层，金属线，石墨烯，铝，铜，电池片，基区，pcb，碳纳米管，微处理器，四探针，太阳能电池，半导体材料，硅片等。

薄层电阻检测流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

以上是薄层电阻检测的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。