半导体晶圆测试检测,晶圆检测机构
晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅。
晶圆检测标准
1、GB/T 26044-2010 信号传输用单晶圆铜线及其线坯
2、KS B 2813-2019 晶圆型橡胶座蝶阀
3、GB/T 34177-2017 光刻用石英玻璃晶圆
4、SJ/T 11761-2020 200mm及以下晶圆用半导体设备装载端口规范
5、ASTM F928-93(1999) 圆形半导体晶圆和刚性圆盘基底边缘轮廓的标准试验方法
6、T/CASMES 125-2022 晶圆减薄划片技术规范
7、MSZ 2024-1979 晶圆合金
晶圆检测范围
晶圆、半导体晶圆、硅晶圆、硅晶圆、晶圆片、晶圆电阻等。
晶圆检测项目
缺陷检测、表面检测、衬底检测、键合检测、电性检测、失效分析等。
晶圆检测流程
1、沟通需求(在线或电话咨询);
2、寄样(邮寄样品支持上门取样);
3、初检(根据客户需求确定具体检测项目);
4、报价(根据检测的复杂程度进行报价);
5、签约(双方确定--签订保密协议);
6、完成实验(出具检测报告,售后服务);
以上是晶圆检测相关介绍,如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。
清析技术研究院可提供相关检测服务,提供CMA/CNAS资质检测报告,致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务,实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。
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