X射线荧光光谱XRF测试项目

单质模式，氧化物模式，半定量测试，成分分析等。

X射线荧光光谱XRF测试仪器型号

岛津EDX-7000、ZSX PrimusⅢ+、XOS HD Prime Analyzer、EDX-8000、岛津-1800F

X射线荧光光谱XRF测试样品要求

1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品；2. 粉末样品：粉末样品需要至少1 g ，**3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，200目以下；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；3. 块状、薄膜样品：块状样品必须有一边大于2.5 cm，标明测试面（表面光滑平整）；4，如因样品量过少原因导致测试时必须用硼酸压片需另行支付压样成本费。

X射线荧光光谱XRF测试应用范围

用于物质成分分析，进行无损分析，分析速度快，应用范围广；

可以对固体、粉末、液体、薄膜、熔片样品中常量、次量和痕量元素进行快速定性、半定量分析

X射线荧光光谱XRF测试流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

以上是X射线荧光光谱XRF测试检测的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。