霍尔效应测试项目

主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等；用来判断半导体材料之型态(n或p)，LED磊晶层的质量判定，判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，太阳能电池片的制程辅助。

霍尔效应测试仪器型号

HMS-7000

霍尔效应测试样品要求

薄膜或固体材料，8-12mm的圆片或者方片，整体厚度不超过1.1mm；

如果是镀膜在基底上面的话，保证薄膜和基底整体厚度不超过1.1mm

霍尔效应测试应用范围

主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等。用来判断半导体材料之型态(n或p)，LED磊晶层的质量判定，判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，太阳能电池片的制程辅助等。

霍尔效应测试流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

以上是霍尔效应测试检测的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。