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X射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

XRD成分分析范围

金属、分子材料测试、二氧化硅含量的测试、计算晶粒尺寸等。

XRD成分分析项目

物相分析：分定性分析和定量分析，前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。

合金相变：包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学等；

结构分析，研究非晶态金属和液态金属结构，如测定近程序参量、配位数

特殊状态下的分析：在高温、低温和瞬时的动态分析；

XRD成分分析标准

1、GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

2、EN 12698-2-2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法

2、BS EN 12698-2-2007 和碳化硅耐熔制品结合的氮化物的化学分析.射线衍射(XRD)法

3、NF B49-422-2-2008 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法.

4、JIS K0131-1996 X射线衍射分析通则

5、SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法

6、DIN EN 12698-2-2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法

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