外延片性能检测，外延片第三方检测机构

外延是半导体工艺当中的一种。在bipolar工艺中，硅片底层是P型衬底硅（有的加点埋层）；然后在衬底上生长一层单晶硅，这层单晶硅称为外延层。

外延片检测标准

1、SJ 3242-1989 砷化镓外延片

2、GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片

3、GB/T 14139-2009 硅外延片

4、GB/T 14015-1992 硅-兰宝石外延片

5、GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法

6、SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片

外延片检测项目

表面质量检测，反射率检测，光谱分析，峰值波长检测，波长均匀性检测，表面形貌分析，厚度检测，翘曲度检测，表面粗糙度检测等。

外延片检测范围

LED外延片，硅外延片，芯片外延片，氮化镓外延片，半导体外延片，砷化镓外延片，晶圆外延片，激光外延片等。

外延片检测流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

以上是外延片检测的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。