半导体应变片老化试验，应变片物理性能检测机构

应变片是由敏感栅等构成用于测量应变的元件。电阻应变片的工作原理是基于应变效应制作的，即导体或半导体材料在外界力的作用下产生机械变形时，其电阻值相应的发生变化，这种现象称为“应变效应”。

应变片检测标准（部分）

1、T/CECA 60-2021 金属应变片式微型力传感器

2、TB/T 2489-2016 轮轨横向力和垂向力地面测试方法

3、ASTM E251-1992(2014) 金属粘接电阻应变片性能特性的试验方法

4、ASTM E1949-2003(2014) e1金属粘接电阻应变片环境温度疲劳寿命试验方法

5、GB/T 25917.1-2019 单轴疲劳试验系统 第1部分：动态力校准

6、GB/T 36668.5-2020 游乐设施状态监测与故障诊断 第5部分：应力检测/监测方法

7、VDI/VDE/GESA 2635-1-2007 实验结构分析 金属粘接电阻应变片 参数和测量条件

应变片检测范围 

电阻应变片、箔式应变片、全桥应变片、半导体应变片、压力应变片、应力应变片、电阻式应变片、金属应变片等。

应变片检测项目

稳定性、耐高温性、疲劳试验、老化试验、拉伸性能、变形性、物理性能等。

应变片检测流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。