HAST加速老化试验测试，第三方HAST老化试验检测机构

HAST老化试验标准

1、GB/T 4937.4-2012v 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST)

2、KS C IEC 60749-4:2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）

3、IEC 60749-4:2017 半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）

4、KS C IEC 60749-24:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第24部分:加速抗湿性.无偏HAST

5、NF C96-022-24-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第24部分:加速抗湿.无偏HAST

6、BS EN 60749-24-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.加速耐湿性.无偏差HAST

HAST老化试验范围

塑封器件，微电路，半导体器件，倒装焊，电子电工产品，芯片，光学零件，MOS管，移动电源，集成电路，端子，半导体，PCB板，元器件，磁钢等。

HAST老化试验项目

强加速稳态湿热(HAST)试验，HAST老化试验，HAST高压加速老化试验，高压加速寿命HAST试验，HAST非饱和寿命老化试验等。

HAST老化试验流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

以上是HAST老化试验检测的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，致力于产品研发、成分分析、材料检测、工业诊断、模拟测试、大型仪器测试、可信性验证等技术服务，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。